Description  

03/04/2014 - Grenoble

Intervenants
Lionel DORIS FRESENIUS VIAL
Julien MELOT EATON INDUSTRIE France
Frédéric CARTIEAUX HAGER SECURITY
Jean-Pierre COVILLERS STMicroelectronics
Sébastien SERPAUD NEXIO

Programme de la journée 

Apports pour la CEM
Analyses préliminaires 
Investigations en Emission
Investigations en Immunité
Modélisation
Perspectives (Pré-qualification / Normalisation)

Apports pour la conception
Optimisation (placement, routage, ...)
Contrôle de fabrication
Evaluation Sous-traitants et 2nd source
Gestion des évolutions et obsolescences

Présentation d'un de nos moyens d'essais
Vous pourrez profiter des pauses et du buffet déjeunatoire pour découvrir notre nouveau système de mesures hard/soft BAT-SCANNER en fonctionnement.

Ce séminaire est organisé à L'Hôtel Mercure
34 Avenue de Verdun - 38240 MEYLAN

Inscription gratuite
Avant le 01/04/2014

Besoin d'une information complémentaire? 05 61 44 02 47

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