Description  

Résumé :

Ce papier propose une méthodologie de post-traitement des Mesures en Champ Proche (MCP) pour l’aide à la conception CEM amont des produits électroniques complexes. L’objectif industriel est de limiter les délais, les coûts et le nombre d’essais en Emission Rayonnée (RE) en phase de pré-qualification.
A partir des mesures des deux composantes tangentielles des champs magnétiques H_x et H_y à proximité immédiate de la carte, l’outil « NFS₂RE » permet :
1) l’estimation des quatre composantes restantes H_z, E_x, E_y et E_z en champ proche (Ces composantes sensibles sont plus difficiles à mesurer).
2) l’extrapolation des champs EM pour chaque fréquence f et à la distance d de la carte (Essai RE).

La méthodologie d’analyse proposée est basée sur la théorie du Spectre d’Ondes Planes (SOP). Une première validation de la méthodologie est réalisée à partir de simulations par la Méthode des Moments (MOM) d’une antenne magnétique rayonnante. Les limitations de la méthode sont examinées pour optimiser le choix des paramètres sensibles.
Une seconde validation expérimentale est proposée à partir de mesures réalisées sur une carte électronique industrielle mise à disposition par l’IRT Antoine de Saint Exupéry. Les mesures standardisées d’émission rayonnée (RE) réalisées en cage anéchoïque permettent de valider les résultats fournis par l’outil NFS₂RE.

Auteur(s) : S. Leman, R. Omarouayache, S. Serpaud, F. Hoëppe

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